DLA MIL-PRF-19500/741 A VALID NOTICE 1-2013
Dispositivo semiconductor, efecto de campo, matriz de transistor endurecida por radiación (dosis total y efectos de evento único), canal N y canal PC, silicio, varios tipos, JANHC y JANKC

Estándar No.

DLA MIL-PRF-19500/741 A VALID NOTICE 1-2013

Fecha de publicación

2013

Organización

Defense Logistics Agency