(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Alcance
Esta norma describe un conjunto de pruebas de aceptación de referencia para la cualificación de módulos amplificadores de potencia para su uso como un producto nuevo, una familia de productos o un producto en proceso de modificación. Estas pruebas pueden estimular e inducir fallos en dispositivos semiconductores, componentes internos, laminados y encapsulados. El objetivo es inducir fallos de forma acelerada en comparación con las condiciones de uso. Las predicciones de la tasa de fallos suelen requerir tamaños de muestra, duraciones o tensiones mayores que las especificadas en las pruebas de cualificación, lo que agrava el desgaste normal. Para obtener orientación sobre la predicción de las tasas de fallos, consulte JESD85, Metodología para el cálculo de las tasas de fallos en los FIT. Esta norma de cualificación no aborda condiciones de uso extremas, como aplicaciones militares, aplicaciones bajo el capó de automóviles o entornos de aviónica no controlados, ni aborda las consideraciones de fiabilidad de segundo nivel, que se abordan en JEP150.