ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión normas y especificaciones

Alcance: Este documento especifica el método de análisis de difracción de electrones de área seleccionada (SAED) utilizando un microscopio electrónico de transmisión (TEM) para analizar muestras cristalinas delgadas. Este documento se aplica a áreas de prueba de tamaño micrómetro y submicrómetro. El diámetro mínimo del área seleccionada en una muestra que puede analizarse con este método está limitado por el coeficiente de aberración esférica de la lente del objetivo del microscopio y se aproxima a varios cientos de nanómetros para un TEM moderno. Cuando el tamaño del área de una muestra analizada es menor que esa restricción, este documento también se puede utilizar para el procedimiento de análisis. Pero, debido al efecto de la aberración esférica, parte de la información de difracción en el patrón puede generarse desde fuera del área definida por la apertura del área seleccionada. En tales casos, podría preferirse el uso de microdifracción (difracción de nanohaz) o difracción de electrones de haz convergente, cuando esté disponible. Este documento es aplicable a la adquisición de patrones SAED a partir de muestras cristalinas, indexación de los patrones y calibración de la constante de difracción.

ISO 25498:2018 Documento de referencia

ISO/IEC 17025 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración.

2018 ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
2010 ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión