GB/T 20230-2022
Monocristal de fosfuro de indio (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 20230-2022
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2022
Organización
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
Ultima versión
GB/T 20230-2022
Reemplazar
GB/T 20230-2006
Alcance
Este documento especifica la marca, los requisitos técnicos, los métodos de prueba, las reglas de inspección, el marcado, el embalaje, el transporte, el almacenamiento, los documentos adjuntos y el formulario de pedido del monocristal de fosfuro de indio. Este documento es aplicable a la producción de lingotes monocristalinos de fosfuro de indio y obleas pulidas de monocristal de fosfuro de indio para dispositivos optoelectrónicos y microelectrónicos.

GB/T 20230-2022 Documento de referencia

  • GB/T 13388 Método para medir la orientación cristalográfica de planos en rodajas y obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X.
  • GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
  • GB/T 1555 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor*2023-08-06 Actualizar
  • GB/T 19921 Método de prueba para partículas en superficies de obleas de silicio pulidas.
  • GB/T 26067 Método de prueba estándar para dimensiones de muescas en obleas de silicio
  • GB/T 2828.1-2012 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
  • GB/T 32278 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 4326 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
  • GB/T 6618 Método de prueba para el espesor y la variación del espesor total de rodajas de silicio.
  • GB/T 6624 Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual

GB/T 20230-2022 Historia




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