CNS 5070-1988
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de ciclo de temperatura) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 5070-1988

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1988

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 5070-1988

Alcance

Esta norma especifica el método de prueba para la resistencia de un solo dispositivo semiconductor a temperaturas altas y bajas y el grado de cambio de temperatura entre las dos temperaturas.

CNS 5070-1988 Historia

• 1988 CNS 5070-1988 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de ciclo de temperatura)