CNS 5074-1988
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de caída libre) (Versión en inglés)

Estándar No.

CNS 5074-1988

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1988

Organización

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Ultima versión

CNS 5074-1988

Alcance

Esta norma especifica el método de prueba para la capacidad estructural y mecánica de un solo dispositivo semiconductor para dispositivos electrónicos para resistir impactos irregulares y repetidos causados por el uso, el transporte y el uso práctico.

CNS 5074-1988 Historia

• 1988 CNS 5074-1988 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para dispositivos semiconductores discretos (prueba de caída libre)