IEC 60147-1:1963
Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales

Estándar No.

IEC 60147-1:1963

Fecha de publicación

1970

Organización

SCC

Estado

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Remplazado por

IEC 60147-1:1972

Ultima versión

IEC 60147-1:1972

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1963-01-01

IEC 60147-1:1963 Historia

• 1972 IEC 60147-1:1972 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales
• 1970 IEC 60147-1:1963 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 1: Clasificaciones y características esenciales