Este estándar internacional especifica los métodos de prueba para evaluar la expansión en el eje Z de materiales base y placas de circuito impreso. Los métodos descritos son aplicables en la industria electrónica para garantizar la calidad y fiabilidad de los materiales utilizados en la fabricación de circuitos impresos, especialmente en condiciones de temperatura variable que pueden afectar su integridad estructural.

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