Este documento describe una prueba de inmunidad a descargas electrostáticas (ESD) de diodos de derivación de componentes discretos y un método de análisis de datos. El método de prueba descrito somete un diodo de derivación a una prueba de estrés ESD progresiva y el método de análisis proporciona un medio para analizar y extrapolar los fallos resultantes utilizando la función de distribución de Weibull de dos parámetros. El objeto de este documento es establecer un método de prueba común y reproducible para determinar la tolerancia de sobretensión de diodo consistente con un evento de ESD durante los procesos de fabricación, embalaje, transporte o instalación de módulos fotovoltaicos. Este documento no pretende abordar las causas de descargas electrostáticas ni establecer niveles de aprobación o falla para dispositivos de diodos de derivación. Es responsabilidad del usuario evaluar el nivel de exposición a ESD para sus circunstancias particulares. Los datos generados por este procedimiento pueden respaldar la calificación de nuevos tipos de diseño@ control de calidad para el material entrante@ y/o identificar la necesidad de controles ESD adicionales en el proceso de fabricación. Finalmente, este documento no se aplica a grandes sobretensiones, como exposición directa o indirecta a rayos, eventos de conmutación de bancos de capacitores de servicios públicos o similares.
TS 62916-2017 Historia
2017TS 62916-2017 Módulos fotovoltaicos: prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación (Edición 1.0)