Esta norma especifica el plan de muestreo primario de tipo enumeración, el plan de muestreo adicional y los procedimientos de muestreo. Esta norma se aplica a la inspección de fábrica (o lote por lote), pruebas de tipo (o ciclo) e inspección de entrega de dispositivos semiconductores de potencia (incluidos módulos, componentes y accesorios).
JB/T 7786-1995 Historia
1995JB/T 7786-1995 Método de muestreo para pruebas de dispositivos semiconductores de potencia.