Esta norma especifica los parámetros básicos, requisitos técnicos y métodos de prueba de los sistemas de medición del desplazamiento de líneas de rejilla. Esta norma se aplica a sistemas de medición con una resolución de 0,1 a 10 μm.
JB/T 10030-1999 Historia
2012JB/T 10030-2012 Dispositivo de medición del desplazamiento lineal de rejilla
1999JB/T 10030-1999 Sistema de medición de desplazamiento lineal de rejilla