NF EN 60749-4:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo de estrés por calor húmedo continuo altamente acelerado (HAST).

Estándar No.

NF EN 60749-4:2017

Fecha de publicación

2017

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 60749-4:2017

NF EN 60749-4:2017 Historia

• 2017 NF EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo de estrés por calor húmedo continuo altamente acelerado (HAST).