YS/T 24-2016
Métodos de inspección para defectos de las uñas epitaxiales. (Versión en inglés)

Estándar No.

YS/T 24-2016

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2016

Organización

工业和信息化部

Ultima versión

YS/T 24-2016

Reemplazar

YS/T 24-1992

YS/T 24-2016 Historia

• 2016 YS/T 24-2016 Métodos de inspección para defectos de las uñas epitaxiales.
• 1992 YS/T 24-1992 Método de inspección del defecto de la uña epitaxial.