SJ 20874-2003
Especificación general para enchufes para prueba de circuitos integrados de montaje en superficie. (Versión en inglés)

Estándar No.
SJ 20874-2003
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2003
Organización
Professional Standard - Electron
Ultima versión
SJ 20874-2003
 

Alcance
Esta especificación especifica los requisitos generales, las regulaciones de garantía de calidad y los métodos de prueba para los enchufes utilizados para probar circuitos integrados montados en superficie. Esta especificación se aplica a los zócalos de prueba de circuitos integrados montados en superficie (en lo sucesivo, zócalos) instalados en placas impresas o placas posteriores. Además, esta especificación también se aplica a los enchufes para probar circuitos integrados de paquete plano (ver 3.1).

SJ 20874-2003 Documento de referencia

  • GB/T 7092-1993 Dimensiones de Qutline de circuitos integrados semiconductores.
  • GJB 1217-1991 Métodos de prueba de conectores eléctricos.
  • GJB 179A-1996 Procedimientos y tablas de inspección por muestreo de conteo.
  • GJB 360A-1996 Métodos de prueba para componentes electrónicos y eléctricos.

SJ 20874-2003 Historia

  • 2003 SJ 20874-2003 Especificación general para enchufes para prueba de circuitos integrados de montaje en superficie.
Especificación general para enchufes para prueba de circuitos integrados de montaje en superficie.

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