EJ/T 1184-2005 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica el principio del método, los reactivos, los instrumentos, los pasos del análisis, el cálculo de los resultados y la precisión del método para la determinación espectrofotométrica de trazas de silicio en tetrafluoruro de uranio empobrecido. Esta norma es aplicable a la determinación de trazas de silicio en tetrafluoruro de uranio empobrecido. La determinación de trazas de silicio en tetrafluoruro de uranio con otras abundancias se puede utilizar como referencia. Cuando la cantidad tomada es 0,25 g de tetrafluoruro de uranio, el rango de medición del silicio es: (10~120)μg/g. Dentro del rango de medición, 40 μg de fósforo y 3 μg de resistencia no interferirán con la determinación del silicio.

EJ/T 1184-2005 Historia

2005 EJ/T 1184-2005 Determinación de micro silicio en tetrafluoruro de uranio empobrecido por método espectrofotométrico