SJ/T 11307-2005
Conectores con calidad evaluada, para uso en aplicaciones de datos de CC, analógicas de baja frecuencia y digitales de alta velocidad. Parte 4: Conectores de placa impresa. Sección 001: Especificación detallada en blanco. (Versión en inglés)

Estándar No.
SJ/T 11307-2005
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2005
Organización
Professional Standard - Electron
Ultima versión
SJ/T 11307-2005
Alcance
1 Información general 1.1 Métodos de instalación recomendados 1.2 Clasificaciones y características 1.3 Referencias normativas 1.4 Marcado 1.5 Designación de tipo IEC 1.6 Información para realizar pedidos 2 Información técnica 2.1 Terminología 2.2 Descripción general de variedades y especificaciones 2.3 Información de aplicación 2.4 Disposición de los contactos 3 Dimensiones Materiales 3.1 General 3.2 Dibujos isométricos y generales características 3.3 Datos de acoplamiento (matrimonio) 3.4 Conector montado en placa fijo 3.5 Conector montado en placa libre 3.6 Accesorios 3.7 Datos de montaje para conector montado en placa fijo 3.8 Datos de montaje para conector montado en placa libre 3.9 Normativas estándar 4 Características 4.1 Categoría climática 4.2 Propiedades eléctricas 4.3 Propiedades mecánicas 5 Lista de pruebas 5.1 Descripción general 5.2 Lista de pruebas 6 Procedimiento de evaluación de calidad 6.1 Prueba de aprobación 6.2 Inspección de consistencia de calidad 6.3 Entrega retrasada, reinspección

SJ/T 11307-2005 Documento de referencia

  • GB/T 5095.2-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 2: Examen general, pruebas de continuidad eléctrica y resistencia de contacto, pruebas de aislamiento y pruebas de estrés de tensión.
  • GB/T 5095.3-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 3: Pruebas de capacidad de carga de corriente
  • GB/T 5095.4-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 4: Pruebas de estrés dinámicas
  • GB/T 5095.5-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 5: Ensayos de impacto (componentes libres), ensayos de carga estática (componentes fijos), ensayos de resistencia y ensayos de sobrecarga
  • GB/T 5095.6-1997 Componentes electromecánicos para equipos electrónicos. Procedimientos básicos de ensayo y métodos de medición. Parte 6: Pruebas climáticas y pruebas de soldadura.

SJ/T 11307-2005 Historia

  • 2005 SJ/T 11307-2005 Conectores con calidad evaluada, para uso en aplicaciones de datos de CC, analógicas de baja frecuencia y digitales de alta velocidad. Parte 4: Conectores de placa impresa. Sección 001: Especificación detallada en blanco.



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