SJ 2749-1987
Método de medición para diodos láser semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ 2749-1987

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1987

Organización

Professional Standard - Electron

Estado

 2016-06

Remplazado por

SJ/T 2749-2016

Ultima versión

SJ/T 2749-2016

Alcance

Esta norma es aplicable a las pruebas de parámetros fotoeléctricos de diodos láser semiconductores. Al hacer referencia a esta norma, los requisitos específicos relevantes se especificarán en la especificación detallada correspondiente.

SJ 2749-1987 Historia

• 2016 SJ/T 2749-2016 Métodos de prueba de diodos láser semiconductores
• 1987 SJ 2749-1987 Método de medición para diodos láser semiconductores.

SJ 2749-1987 Método de medición para diodos láser semiconductores. ha sido cambiado a SJ/T 2749-2016 Métodos de prueba de diodos láser semiconductores.