SJ 20831-2002
Método para medir y probar parámetros del conjunto dewar del detector de plano focal infrarrojo 4N (Versión en inglés)
- Estándar No.
- SJ 20831-2002
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2002
- Organización
- Professional Standard - Electron
- Ultima versión
- SJ 20831-2002
SJ 20831-2002 Historia
- 2002 SJ 20831-2002 Método para medir y probar parámetros del conjunto dewar del detector de plano focal infrarrojo 4N
