NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: vibración, frecuencia variable.

Estándar No.

NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018

Fecha de publicación

2018

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018

NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018 Historia

• 2018 NF C96-022-12*NF EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: vibración, frecuencia variable.