UNE-EN 62047-25:2016
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: Tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición de la resistencia a la presión y al corte del área de microunión (Avalado por la Asociación Española de Normalización en enero...
- Estándar No.
- UNE-EN 62047-25:2016
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- ES-UNE
- Ultima versión
- UNE-EN 62047-25:2016
UNE-EN 62047-25:2016 Historia
- 2017 UNE-EN 62047-25:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: Tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición de la resistencia a la presión y al corte del área de microunión (Avalado por la Asociación Española de Normalización en enero...
