IEC TR 62878-2-2:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 2-2: Directrices - Pruebas eléctricas normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62878@, que es un informe técnico@, describe la información necesaria sobre las pruebas eléctricas para el sustrato integrado del dispositivo. Esto incluye las pruebas de interconexión de circuito abierto y cortocircuito, así como la prueba funcional del dispositivo. También proporciona pautas al demostrar la Prueba eléctrica para sustrato integrado en dispositivos. Esta parte de IEC 62878 es aplicable a sustratos integrados en dispositivos fabricados mediante el uso de material base orgánico, que incluye, por ejemplo, dispositivos activos o pasivos, componentes discretos formados en el proceso de fabricación de placas de cableado electrónico y láminas formadas. La serie IEC 62878 no se aplica a la capa de redistribución (RDL) ni a los módulos electrónicos definidos como modelo de negocio tipo M en IEC 62421.

IEC TR 62878-2-2:2015 Historia

2015 IEC TR 62878-2-2:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 2-2: Directrices - Pruebas eléctricas