Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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IEC 62860-1:2013*IEEE Std 1620.1:2006
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Se tratan los métodos recomendados y las prácticas de generación de informes estandarizadas para la caracterización eléctrica de osciladores de anillo orgánicos e impresos. Debido a la naturaleza de los circuitos impresos y orgánicos, se pueden introducir errores de medición significativos si el diseño del experimento de caracterización eléctrica no se aborda adecuadamente. Esta norma describe las fuentes más comunes de errores de medición, particularmente...
IEC 62860-1:2013*IEEE Std 1620.1:2006 Historia
2013IEC 62860-1:2013*IEEE Std 1620.1:2006 Métodos de prueba IEC/IEEE para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos