CEI EN 62047-18:2014
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada

Estándar No.

CEI EN 62047-18:2014

Fecha de publicación

2014

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SCC

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CEI EN 62047-18:2014

CEI EN 62047-18:2014 Historia

• 2014 CEI EN 62047-18:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada