JR/T 0045.3-2014
Especificaciones de prueba de tarjetas de circuito integrado (IC) financiero de China Parte 3: Especificaciones de prueba personalizadas para aplicaciones de débito/crédito (Versión en inglés)

Estándar No.
JR/T 0045.3-2014
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2014
Organización
中国人民银行
Ultima versión
JR/T 0045.3-2014
Reemplazar
JR/T 0045.3-2008

JR/T 0045.3-2014 Historia

  • 2014 JR/T 0045.3-2014 Especificaciones de prueba de tarjetas de circuito integrado (IC) financiero de China Parte 3: Especificaciones de prueba personalizadas para aplicaciones de débito/crédito
  • 2008 JR/T 0045.3-2008 Especificación de prueba de tarjetas de circuito integrado (IC) financiero de China, parte 3



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