GB/T 15076.6-2020 Métodos para el análisis químico de tantalio y niobio. Parte 6: Determinación del contenido de silicio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente. (Versión en inglés)
Esta parte de GB/T15076 especifica la determinación del contenido de silicio en tantalio y niobio mediante espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente. Esta sección se aplica a la determinación del contenido de silicio en tantalio, niobio y sus hidróxidos, óxidos, carburos y fluorotantalato de potasio. Rango de medición: 0,0005%~0,50%. 2 principio
GB/T 15076.6-2020 Historia
2020GB/T 15076.6-2020 Métodos para el análisis químico de tantalio y niobio. Parte 6: Determinación del contenido de silicio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
1994GB/T 15076.6-1994 Métodos para el análisis químico de tantalio y niobio. Determinación del contenido de silicio en tantalio.