CEI EN IEC 60749-26:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Estándar No.
CEI EN IEC 60749-26:2018
Fecha de publicación
2018
Organización
Comitato Elettrotecnico Italiano
Ultima versión
CEI EN IEC 60749-26:2018
 
Introducción
Esta norma aborda los métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores, enfocándose específicamente en el capítulo dedicado a la sensibilidad al descarga electrostática (ESD) según el modelo del cuerpo humano (HBM). Proporciona pautas detalladas para evaluar la resistencia de los componentes electrónicos frente a las perturbaciones causadas por el ESD. Los procedimientos incluyen condiciones controladas de temperatura y humedad, así como técnicas precisas para simular el efecto del contacto humano con circuitos sensibles.

CEI EN IEC 60749-26:2018 Historia

  • 2018 CEI EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).

Temas especiales sobre estándares y normas

Método de calibración del descargador electrostático del cuerpo humano.

estándares y especificaciones

IEC 60749-26:2018 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DS/EN 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). GSO IEC 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DANSK DS/EN 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). EN 60749-26:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). DANSK DS/EN IEC 60749-26:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM). EN 60749-26:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).


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