GSO IEC 60749-11:2014
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.

Estándar No.

GSO IEC 60749-11:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

GSO

Ultima versión

GSO IEC 60749-11:2014

GSO IEC 60749-11:2014 Historia

• 2014 GSO IEC 60749-11:2014 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.