ASTM F77-69(1996) Método de prueba para determinar la densidad aparente de cerámicas para dispositivos electrónicos y aplicaciones de semiconductores (retirado en 2001) normas y especificaciones

Alcance: 1.1 Este método de prueba cubre la determinación de la densidad aparente de piezas cerámicas, utilizadas en aplicaciones de dispositivos electrónicos y semiconductores, con una dimensión máxima de 25 mm (1 pulg.) y con porosidad nula o discontinua. 1.2 Los valores establecidos en SI Las unidades deben considerarse como el estándar. Los valores entre paréntesis son solo para información. 1.3 Este estándar no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma para establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad o las limitaciones regulatorias antes de su uso.

ASTM F77-69(1996) Documento de referencia

ASTM E29 Práctica estándar para el uso de dígitos significativos en datos de prueba para determinar la conformidad con las especificaciones

2017 ASTM F77-69(1996) Método de prueba para determinar la densidad aparente de cerámicas para dispositivos electrónicos y aplicaciones de semiconductores (retirado en 2001)