NF EN 62374:2008
Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Estándar No.

NF EN 62374:2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62374:2008

NF EN 62374:2008 Historia

• 2008 NF EN 62374:2008 Dispositivos semiconductores: prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta