IEC 62951-8:2023
Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles. Parte 8: Método de prueba para determinar la capacidad de estiramiento, flexibilidad y estabilidad de la memoria resistiva flexible.
- Estándar No.
- IEC 62951-8:2023
- Fecha de publicación
- 2023
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62951-8:2023
IEC 62951-8:2023 Historia
- 2023 IEC 62951-8:2023 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles. Parte 8: Método de prueba para determinar la capacidad de estiramiento, flexibilidad y estabilidad de la memoria resistiva flexible.
