DIN EN 60749-3:2018-01
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo (IEC 60749-3:2017); Versión alemana EN 60749-3:2017 / Nota: DIN EN 60749-3 (2003-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2020-04-07.