KS C IEC 62047-22-2016
Dispositivos semiconductores ― Dispositivos microelectromecánicos ― Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada

Estándar No.

KS C IEC 62047-22-2016

Fecha de publicación

2016

Organización

KR-KS

Estado

Remplazado por

KS C IEC 62047-22-2016(2021)

Ultima versión

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