DLA MIL-STD-750F w/CHANGE 3-2021
Métodos de prueba para dispositivos semiconductores

Estándar No.
DLA MIL-STD-750F w/CHANGE 3-2021
Fecha de publicación
2021
Organización
Defense Logistics Agency
 
Alcance
Dieser Prüfmethodenstandard zielt darauf ab, eine einheitliche Prüfmethode für Halbleiterbauelemente bereitzustellen, um deren umweltbedingte, physikalische und elektrische Eigenschaften zu ermitteln.

DLA MIL-STD-750F w/CHANGE 3-2021 Documento de referencia

  • ESD S20.20 Protección de piezas, conjuntos y equipos eléctricos y electrónicos (excluidos dispositivos explosivos iniciados eléctricamente)*， 2024-05-20 Actualizar
  • ESD TR20.20 Manual para el desarrollo de un programa de control de descargas electrostáticas para la protección de piezas, conjuntos y equipos electrónicos
  • ISO 10012 Sistemas de gestión de mediciones: requisitos para procesos de medición y equipos de medición.
  • ISO/IEC 17025 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de ensayo y calibración [Norma en francés]
Métodos de prueba para dispositivos semiconductores

estándares y especificaciones

BS ISO/IEC 10164-14:2000 Categorías de pruebas de confianza y diagnóstico IECQ-CECC 01-2003 Sistema de Evaluación de Calidad IEC para Componentes Electrónicos (IECQ-CECC) - Reglas Básicas IEC 62402:2007 Gestión de obsolescencia - Guía de aplicación IEC 107/207/CD:2013 IEC/TS 62668-2: Gestión de procesos para aviónica. Prevención de falsificaciones. Parte 2: Gestión de componentes electrónicos de fuentes no franquiciadas. IPC/JEDEC-9703-2009 Directrices de prueba de choque mecánico para la confiabilidad de las uniones de soldadura SAE AS6294/3-2019 Requisitos para semiconductores discretos encapsulados en plástico en aplicaciones espaciales IECQ OD 3702-2017 Sistema de evaluación de calidad IEC para componentes electrónicos (Sistema IECQ) SAE ARP6379-2016 Procesos para la calificación de aplicaciones específicas de piezas y subconjuntos eléctricos, electrónicos y electromecánicos para uso en sistemas aeroespaciales, de defensa y de alto rendimiento BS ISO/IEC 33004:2015(2018) Tecnología de la información — Evaluación de procesos — Requisitos para la referencia de procesos, evaluación de procesos y modelos de madurez SAE AS6171A-2018 Norma de métodos de prueba; Requisitos generales, piezas sospechosas/falsificadas, eléctricas, electrónicas y electromecánicas BH GSO IEC 61193-2:2024 Sistemas de evaluación de la calidad - Parte 2: Selección y uso de planes de muestreo para la inspección de componentes y paquetes electrónicos SAE J2816-2018 Guía para el análisis de confiabilidad utilizando el proceso de física de fallas MIL MIL-STD-750-1B-2023 MÉTODOS DE ENSAYO AMBIENTAL PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES —— PARTE 1: MÉTODOS DE ENSAYO 1000 A 1999 SAE J2816_201804 Guía para el análisis de confiabilidad mediante el proceso de física de fallas SAE J2816_200912 Guía para el análisis de confiabilidad mediante el proceso de física de fallas IECQ 03-4-2018 Sistema de evaluación de calidad IEC para componentes electrónicos (Sistema IECQ) IPC 9701A CHINESE-2006 Métodos de prueba de rendimiento y requisitos de calificación para accesorios de soldadura de montaje en superficie SAE AS6294/2-2018 Requisitos para microcircuitos encapsulados en plástico en aplicaciones militares y de aviónica SAE AS6294/4-2019 Requisitos para semiconductores discretos encapsulados en plástico en aplicaciones militares y de aviónica


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