CEI EN 60749-16:2005
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).

Estándar No.

CEI EN 60749-16:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

SCC

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CEI EN 60749-16:2005

CEI EN 60749-16:2005 Historia

• 2005 CEI EN 60749-16:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).