NF EN 62047-8:2011
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: método de prueba de flexión de tiras para medir las propiedades de tracción de películas delgadas.

Estándar No.

NF EN 62047-8:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62047-8:2011

NF EN 62047-8:2011 Historia

• 2011 NF EN 62047-8:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: método de prueba de flexión de tiras para medir las propiedades de tracción de películas delgadas.