BH GSO IEC 60749-28:2022
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

Estándar No.

BH GSO IEC 60749-28:2022

Fecha de publicación

2022

Organización

Kingdom of Bahrain Testing and Metrology Directorate

Ultima versión

BH GSO IEC 60749-28:2022

Introducción

Esta norma proporciona métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductoras. La parte específica se enfoca en la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD) utilizando el modelo de dispositivo cargado (CDM). Estos procedimientos permiten evaluar la resistencia de los componentes a las condiciones ambientales y mecánicas adversas, asegurando su funcionamiento adecuado en diversas aplicaciones. La prueba del modelo CDM es crucial para garantizar que los dispositivos semiconductoras puedan soportar descargas electrostáticas sin dañarse.

*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.

BH GSO IEC 60749-28:2022 Historia

• 2022 BH GSO IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

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