ANSI/IEEE Std 641-1987
Definiciones estándar IEEE y caracterización de matrices de semiconductores de óxido de nitruro metálico
- Estándar No.
- ANSI/IEEE Std 641-1987
- Fecha de publicación
- 1988
- Organización
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- Ultima versión
- ANSI/IEEE Std 641-1987
- Alcance
- Este estándar tiene diez secciones: una introducción al dispositivo MNOS y la matriz de memoria; símbolos y definiciones; referencias que contienen detalles adicionales sobre conceptos específicos; matrices MNOS y operaciones funcionales; retención de la matriz MNOS; propiedad de resistencia de la matriz MNOS; consideraciones de confiabilidad para las matrices MNOS; la metodología de prueba necesaria para establecer las propiedades únicas de la matriz MNOS para ambos...
ANSI/IEEE Std 641-1987 Historia
- 1988 ANSI/IEEE Std 641-1987 Definiciones estándar IEEE y caracterización de matrices de semiconductores de óxido de nitruro metálico
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
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