OS GSO ISO/TS 17915:2015
Óptica y fotónica: método de medición de láseres semiconductores para detección.

Estándar No.
OS GSO ISO/TS 17915:2015
Fecha de publicación
2015
Organización
The Directorate General of Specifications and Metrology (DGSM)
Ultima versión
OS GSO ISO/TS 17915:2015
 
Introducción
Este documento técnico proporciona métodos de medición para láseres semiconductores utilizados en sensores ópticos y fotónicos. Define las condiciones bajo las cuales se deben realizar estas mediciones para garantizar la consistencia y comparabilidad de los resultados. Incluye detalles sobre la caracterización del rendimiento de estos dispositivos, como potencia luminosa, rango de operación y eficiencia energética.

OS GSO ISO/TS 17915:2015 Historia

Temas especiales sobre estándares y normas

Medición óptica de semiconductores. grupo de sensores láser Implementación de sensores de alcance láser.

estándares y especificaciones

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