UNE-EN 60749-28:2017
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)