T/CIE 151-2022
Método de prueba de envejecimiento dinámico para chips de matriz de puertas programables en campo (FPGA) (Versión en inglés)

Estándar No.

T/CIE 151-2022

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Organización

Group Standards of the People's Republic of China

Ultima versión

T/CIE 151-2022

T/CIE 151-2022 Historia

• 1970 T/CIE 151-2022 Método de prueba de envejecimiento dinámico para chips de matriz de puertas programables en campo (FPGA)