NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: almacenamiento a alta temperatura.
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Estándar No.
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Fecha de publicación
2017
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
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NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 Historia
2017
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Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: almacenamiento a alta temperatura.
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