IEC 61000-4-12:1995/AMD1:2000
Enmienda 1 - Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4: Técnicas de prueba y medición - Sección 12: Prueba de inmunidad a ondas oscilatorias. Publicación básica de EMC

Estándar No.
IEC 61000-4-12:1995/AMD1:2000
Fecha de publicación
2000
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
 2006-09
Remplazado por
IEC 61000-4-12:2001
Ultima versión
IEC 61000-4-12:2017 RLV
Reemplazar
2000-11-09
 

Introducción

Esta publicación técnica establece el procedimiento específico para realizar pruebas de resistencia a la oscilación electromagnética. Se trata de un complemento que modifica el documento base relacionado con las técnicas de ensayo y medición en el ámbito de la compatibilidad electromagnética. El enfoque principal se centra en definir las características técnicas de la señal de perturbación de oscilación, así como los métodos para generarla y aplicarla sobre equipos bajo prueba. Mediante el uso de circuitos oscilantes diseñados específicamente, se genera un tren de oscilaciones amortiguadas que simula los transitorios provocados por la desconexión de cargas inductivas o arcos eléctricos en redes de potencia. El procedimiento detalla los parámetros de la onda resultante, incluyendo su frecuencia y tiempo de decaimiento, garantizando la reproducibilidad de los ensayos. Además, se describen las condiciones de montaje y el equipo necesario para ejecutar la prueba de manera coherente en diversos entornos industriales. Este documento técnico sirve como referencia para fabricantes y organismos de evaluación, permitiendo verificar el comportamiento de los dispositivos ante este tipo de interferencias específicas sin alterar la funcionalidad del sistema en condiciones normales de operación.

IEC 61000-4-12:1995/AMD1:2000 Historia

  • 0000 IEC 61000-4-12:2017 RLV
  • 2006 IEC 61000-4-12:2006 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-12: Pruebas y mediciones - Prueba de inmunidad a las ondas anulares
  • 2001 IEC 61000-4-12:2001 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4-12: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a ondas oscilatorias (Edición 1.1 Reimpresión consolidada)
  • 2000 IEC 61000-4-12:1995/AMD1:2000 Enmienda 1 - Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4: Técnicas de prueba y medición - Sección 12: Prueba de inmunidad a ondas oscilatorias. Publicación básica de EMC
  • 1995 IEC 61000-4-12:1995 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4: Técnicas de prueba y medición - Sección 12: Prueba de inmunidad a ondas oscilatorias; publicación básica de EMC

estándares y especificaciones

CSA IEC 61000-4-12-01-CAN/CSA:2001 Compatibilidad electromagnética (EMC) Parte 4: Técnicas de prueba y medición - Sección 12: Prueba de inmunidad a ondas oscilatorias Publicación básica sobre EMC CSA CEI 61000-4-12-01-CAN/CSA-2001 Compatibilite Electromagnetique (CEM) - Parte 4: Techniques D'essai Et De Mesure - Sección 12: Essai D'immunite Aux Ondes Oscillatoires Publicación Fondamentale IEC 61000-4-10:1993/AMD1:2000 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-10: Técnicas de prueba y medición; Prueba de inmunidad al campo magnético oscilatorio amortiguado; Enmienda 1 IEC 61000-4-20/AMD1:2006 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas CSA CEI 61000-4-2-01-CAN/CSA-2001 Compatibilit?蒷ectromagn閠ique (CEM) - Parte 4-2: Techniques D'essai Et De Mesure - Essai D'immunit?Aux D閏harges 蒷ectrostatiques premi鑢e 閐ition CAN/CSA-CEI/IEC 61000-4-12-2013(R2017 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-12: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a ondas anulares (Adoptada IEC 61000-4-12:2006, segunda JJF 1397-2013 Especificación de calibración para simuladores de descarga electrostática IEC 61000-4-2/AMD1:1998 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-2: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a descargas electrostáticas; Enmienda 1 IEC 61000-4-14:1999/AMD1:2001 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-14: Técnicas de prueba y medición; Prueba de inmunidad a las fluctuaciones de voltaje; Enmienda 1



© 2026 Reservados todos los derechos.