SJ/T 11874-2022
Procedimientos de prueba de esfuerzo para dispositivos semiconductores discretos utilizados en vehículos eléctricos. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11874-2022

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2022

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11874-2022

SJ/T 11874-2022 Historia

• 2022 SJ/T 11874-2022 Procedimientos de prueba de esfuerzo para dispositivos semiconductores discretos utilizados en vehículos eléctricos.