VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020
Tecnología de medición óptica en microtopografías: calibración de interferómetros de medición de áreas y microscopios de interferencia para la medición de formas

Estándar No.

VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020

Fecha de publicación

2020

Organización

SCC

Ultima versión

VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020

VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020 Historia

• 2020 VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020 Tecnología de medición óptica en microtopografías: calibración de interferómetros de medición de áreas y microscopios de interferencia para la medición de formas
• 2018 VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2018 Tecnología de medición óptica en microtopografías: calibración de interferómetros de medición de superficies y microscopios de interferencia para la medición de formas