IEC 62951-9:2022
Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles - Parte 9: Métodos de prueba de rendimiento de celdas de memoria resistivas de un transistor y una resistencia (1T1R)
- Estándar No.
- IEC 62951-9:2022
- Fecha de publicación
- 2022
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 62951-9:2022
IEC 62951-9:2022 Historia
- 2022 IEC 62951-9:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores flexibles y extensibles - Parte 9: Métodos de prueba de rendimiento de celdas de memoria resistivas de un transistor y una resistencia (1T1R)
