CEI EN 60749-19/A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.

Estándar No.

CEI EN 60749-19/A1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

SCC

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CEI EN 60749-19/A1:2011

CEI EN 60749-19/A1:2011 Historia

• 2011 CEI EN 60749-19/A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Resistencia al corte del troquel.