T/CPIA 0009-2019
Método de imágenes por electroluminiscencia para la detección de defectos en módulos fotovoltaicos de silicio cristalino (Versión en inglés)
- Estándar No.
- T/CPIA 0009-2019
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- Group Standards of the People's Republic of China
- Ultima versión
- T/CPIA 0009-2019
- Alcance
- Esta norma especifica la detección de defectos de celda en módulos fotovoltaicos de silicio cristalino, incluidos términos y definiciones, preparación de muestras, equipos de prueba, pautas de seguridad, requisitos ambientales, calibración de instrumentos, procedimientos de prueba, clasificación e informes de defectos, etc. Esta norma es aplicable a las pruebas de defectos de células en módulos fotovoltaicos de silicio cristalino de interior. Las pruebas de exterior se pueden utilizar como referencia.
T/CPIA 0009-2019 Historia
- 2019 T/CPIA 0009-2019 Método de imágenes por electroluminiscencia para la detección de defectos en módulos fotovoltaicos de silicio cristalino
