"Los métodos incluidos en este documento son: a. Márgenes de diseño de voltaje-temperatura. b. Interrupciones y transitorios de voltaje. c. Caídas y caídas de voltaje. d. Consumo de corriente bajo una serie de condiciones. e. Ruido de entrada del interruptor Estos métodos son los mejores Se aplica durante la etapa de Desarrollo, pero se puede utilizar en todas las etapas (por ejemplo, Precalificación@ Calificación o Conformidad) Filosofía de medición Los principales problemas asociados con los sistemas electrónicos maduros (no mecánicos) contemporáneos son: a. Requisitos no definidos adecuadamente (por ejemplo, funcionalidad@ ambiente). b. Interfaces del sistema. c. Problema no indicado (TNI). Un programa de prueba de validación típico puede no abordar suficientemente estos problemas. Algunas deficiencias comunes son: a. Validación de requisitos: probado en condiciones ideales (por ejemplo, temperatura ambiente @ potencia de banco). suministro). b. Pruebas ambientales (no EMC) orientadas principalmente al desgaste. c. Pruebas de EMC no realistas: solo temperatura ambiente @ señales de ruido idealizadas. d. Interacciones del sistema @ interfaces y degradación no abordadas suficientemente. Este documento aborda gran parte de lo anterior utilizando técnicas relativamente simples y de bajo costo que: a. Requiere instalaciones de laboratorio mínimas. b. Permite la máxima flexibilidad para experimentar al principio del programa. C. Permite suficiente tiempo de reacción para reaccionar ante posibles problemas. d. Etapa donde los fallos son buenos (maximiza la información). Una cuestión principal que se aborda aquí es la inmunidad conducida (CI). Ese aspecto de la compatibilidad electromagnética (EMC) tiene el mayor potencial de problemas de garantía y satisfacción del cliente. Sin embargo, las pruebas de validación tradicionales para la IC tienen importantes limitaciones. Específicamente, las pruebas de CI se realizan con mayor frecuencia a temperatura ambiente debido a la naturaleza del equipo y las instalaciones de prueba: la respuesta del producto podría ser diferente cuando está frío o caliente que a temperatura ambiente. Otra limitación es que se utilizan señales muy repetibles, precisas e idealizadas para representar el "mundo real". Si bien esto parecería deseable, no es necesariamente así. El "mundo real" contiene aleatoriedad y otras características (por ejemplo, impedancias complejas) que no se reproducen en dichas señales de prueba idealizadas. La aleatoriedad es extremadamente crítica para un DUT tipo microprocesador ya que el evento de estrés (por ejemplo, transitorios) a menudo debe alinearse en el tiempo con cierto punto en la ejecución del software para tener un efecto. Es importante tener en cuenta que muchas de estas pruebas no son del tipo "prueba de éxito", donde los resultados se clasifican como aprobados o reprobados. Estas pruebas tienen un valor limitado ya que generan poca información. El objetivo es generar datos variables o anomalías para que se obtenga la máxima cantidad de información y se pueda emitir un juicio de ingeniería informado. "