NF C96-022-24*NF EN 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: resistencia acelerada a la humedad. HAST imparcial.
2005NF C96-022-24*NF EN 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: resistencia acelerada a la humedad. HAST imparcial.