NF EN 62374-1:2011
Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

Estándar No.

NF EN 62374-1:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF EN 62374-1:2011

NF EN 62374-1:2011 Historia

• 2011 NF EN 62374-1:2011 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas